2SA2153

No.8123-2/6

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Parameter

Symbol

Conditions

Ratings

Unit

Collector Dissipation

PC

1.3

W

Tc=25°C

3.5

W

Junction Temperature

Tj

150

°C

Storage Temperature

Tstg

--55 to +150

°C

Electrical Characteristics at Ta=25°C

Parameter

Symbol

Conditions

Ratings

Unit

min

typ

max

Collector Cutoff Current

ICBO

VCB=--40V, IE=0A

--1

μA

Emitter Cutoff Current

IEBO

VEB=--4V, IC=0A

--1

μA

DC Current Gain

hFE1VCE=--2V, IC=--100mA

200

560

hFE2VCE=--2V, IC=--1.5A

40

Gain-Bandwidth Product

fT

VCE=--10V, IC=--300mA

420

MHz

Output Capacitance

Cob

VCB=--10V, f=1MHz

16

pF

Collector-to-Emitter Saturation Voltage

VCE(sat)

IC=--1A, IB=--50mA

--0.2

--0.4

V

Base-to-Emitter Saturation Voltage

VBE(sat)

IC=--1A, IB=--50mA

--0.9

--1.2

V

Collector-to-Base Breakdown Voltage

V(BR)CBO

IC=--10μA, IE=0A

--50

V

Collector-to-Emitter Breakdown Voltage

V(BR)CEO

IC=--1mA, RBE=∞

--50

V

Emitter-to-Base Breakdown Voltage

V(BR)EBO

IE=--10μA, IC=0A

--6

V

Turn-ON Time

ton

See specified Test Circuit.

35

ns

Storage Time

tstg

200

ns

Fall Time

tf

24

ns

Switching Time Test Circuit

Ordering Information

Device

Package

Shipping

memo

2SA2153-TD-E

PCP

1,000pcs./reel

Pb Free

VR

RL

VCC= --25V

VBE=5V

IC=10IB1= --10IB2= --700mA

+

+

50

Ω

INPUT

OUTPUT

RB

100

μF

470

μF

PW=20

μs

IB1

IB2

D.C.

≤1%

IC

IC -- VCE

--2.0

--1.8

--1.6

--1.4

--1.2

--1.0

--0.8

--0.4

--0.2

--0.6

0

0

IC -- VBE

Base-to-Emitter Voltage, VBE -- V

IT08347

0

--2.0

--0.1 --0.2 --0.3 --0.4 --0.5 --0.6 --0.7 --0.8 --0.9 --1.0 --1.1

--0.2

--0.4

--0.6

--0.8

--1.0

--1.2

--1.4

--1.6

--1.8

0

--0.2

--0.4

--0.6

--0.8

--1.0

--1.2

--1.4

--1.6

--1.8

--2.0

IB=0mA

--50mA

--40mA

--30mA

--20mA

--10mA

--5mA

--4mA

--3mA

--2mA

--1mA

--60mA

VCE= --2V

Stresses exceeding Maximum Ratings may damage the device. Maximum Ratings are stress ratings only. Functional operation above the Recommended Operating

Conditions is not implied. Extended exposure to stresses above the Recommended Operating Conditions may affect device reliability.